张雪娜

张雪娜博士,埃芯半导体创始人、董事长、CTO。曾就职美国科磊、应用材料等多家国际著名半导体公司,历任科学家、研发负责人及全球产品总监职务。张博士专业于工艺/器件集成以及半导体、泛半导体的镀膜、量测、检测设备的开发、投放、量产导入及全球产品管理等,是在半导体设备技术研发、业务开发、产品营销等各方面具备杰出能力和丰富经验的综合性人才。已有学术论文在国际30多种出版物发表,拥有14项国外专利,2项国内专利,多次受邀为国际学术演讲嘉宾。

深圳市埃芯半导体科技有限公司是一家半导体设备高科技公司,专业从事半导体晶圆制造前道量测和检测设备的研发、制造和销售。产品涵盖光学薄膜量测、光学关键尺寸量测、光学衍射套刻量测、X射线薄膜量测、X射线材料性能量测、X射线成分及表面污染量测等系列产品及解决方案,产品规格匹配国际尖端水准,支持先进逻辑工艺、先进DRAM工艺及先进3D NAND量测,已经实现市场商用。
公司在深圳设有2000平米的研发及生产基地,在上海、武汉、北京、合肥设有分公司和办公室,核心团队来自全球半导体行业顶尖技术专家和全球科研机构资深研究人员。埃芯致力于真正解决半导体量测设备卡脖子问题,注重底层技术创新,光学及X射线量测核心技术自主研发,拥有自主知识产权的软件平台及核心算法。通过科研机构合作,引领技术及产品持续创新。重视供应链安全,关键部件自研或国产化。

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